高精度全自动测定高速传输基板频率特性的行业顶尖装置
一种自动测量裸基板频率特性的装置。同时兼具较高的接触精度和重复稳定性。
由于搭载矢量网络分析仪可以高速测量多块单片基板,因此最适合用于承担5G社会的基板的全数检查和评价、分析工作。
Micro Prober MP Series的特点
高频特性的全数测量
通过自动化实现了以往较为困难的高频特性的全数测量。
卓越的重复稳定性和再现性
在基板发生翘曲和变形时也能保持恒定的探头接触条件,因此可实现卓越的测量重复稳定性和再现性。能够明确判断个片之间细微的特性差异。
高吞吐量
通过结合多端口VNA可实现量产。实现多个片及多轨迹的批量测量。
品质可视化与100%产品保修
由于可对基板上的实际电路进行全数测量,因此可以对前一工序品质进行反馈,或对后一工序品质进行保证。
多种测量项目
通过组装市售的VNA,实现满足不同用途的多种测量。(VNA=矢量网络分析仪)
双面测试
通过独立的上下探测测试头可同时应对双面拥有探测点的基板。
操作简单
简单的治具更换系统、探测位置自动调整,无需特殊技能亦可进行操作。
100%可追溯性
使各个片的测量结果与基板上的2D条形码联动进行自动保存。
上下料全自动化*1
全自动基板上下料系统,有助于减少人力、保持品质稳定。
*1 Option
对象工件